S200-MF — это представитель нового поколения спектрометров с высоким пространственным разрешением по всей площади двухкоординатных (матричных) датчиков изображения.
Благодаря инновационной оптической схеме и специально разработанной оптике с коррекцией аберраций оптический спектрометр S200-MF имеет полную компенсацию астигматизма по всей площади светочувствительной зоны детектора. Это позволяет подсоединить к входной щели спектрометра многоволоконный оптический кабель и одновременно получать спектры от нескольких световодов. При использовании стандартных датчиков высотой порядка 6 мм число одновременно анализируемых световодов может достигать нескольких десятков.
Таким образом, с помощью S200-MF Вы можете одновременно регистрировать не один спектр, как в случае традиционного спектрометра, а два, пять, десять, двадцать и более спектров в соответствии с требованиями Вашей аналитической задачи.
Оптический спектрометр S200-MF имеет входную щель фиксированной ширины и может работать как с оптическими волокнами, так и без них. При прямом вводе излучения в спектрометр изображение анализируемого участка объекта проецируется непосредственно на входную щель, а на детекторе спектрометра регистрируется спектральная информация от выбранного участка с высоким пространственным разрешением.
Оптический спектрометр S200-MF обеспечивает плоское поле и идеальное качество изображения в любой точке поля, как в центре детектора, так и по краям. Компактный размер и короткофокусная оптическая схема S200-MF позволяют при необходимости регистрировать достаточно широкий спектральный диапазон, ограниченный только диапазоном спектральной чувствительности детектора.
S200-MF: одновременная регистрация спектра Hg лампы с помощью 8-ми световодов, λ= 250-600нм.
Оптический спектрометр S200-MF также может быть использован для получения спектральных изображений от линейного участка образца в оптическом микроскопе. При наличии возможности перемещения объекта в поле зрения микроскопа (сканирующий столик XY) могут быть получены 2D-изображения объекта.
| Cпектральный диапазон чувствительности детектора | 200÷1100 нм | ||
| Фокусное расстояние | 191 мм | ||
| Относительное отверстие | 1 : 8,5 | ||
| Входная щель (одна из ряда) | фиксированной ширины: 20, 30, 50 или 100 мкм | ||
| Спектральное разрешение | зависит от выбранной дифракционной решетки(см. «Рекомендации по выбору дифракц.решетки») | ||
| Модель ПЗС-детектора | S10140-1109 | ||
| Количество пикселей | 2068 x 512 | ||
| Количество активных пикселей | 2048 x 506 | ||
| Размер пикселя | 12 x 12 мкм | ||
| Размер светочувствительной зоны | 24.576 x 6.072 мм | ||
| Максимум спектральной чувствительности | 600 нм | ||
| Квантовая эффективность в максимуме | >90 % | ||
| Неравномерность чувствительности (1) | ±3 % | ||
| Антиблюминг (2) | нет | ||
| АЦП | 16 бит | ||
| Скорость чтения данных | 250 кГц | ||
| Среднеквадратичный шум чтения, отсчетов АЦП | < 12 | ||
| Динамический диапазон | ~ 5 400 : 1 | ||
| Время экспозиции | 8,3 мсек — 3 сек (3) | ||
| Время обработки кадра в режиме суммирования строк | 9,39 мсек | ||
| Термоэлектрическое охлаждение | нет | ||
| Рабочая температура | 10÷30 0С | ||
| Интерфейс связи с компьютером | Full Speed USB | ||
| Синхронизация | IN/OUT | ||
| Требования к внешнему синхроимпульсу: | |||
| полярность | положительная | ||
| амплитуда | 3-15 В | ||
| длительность импульса по полувысоте | 5-20 мксек | ||
| разъем синхронизации | BNC-58 | ||
| Параметры передаваемых синхроимпульсов: | |||
| полярность | положительная | ||
| амплитуда | 3-5 В | ||
| длительность импульса по полувысоте | 10 мксек | ||
| Механический затвор (для работы с непрерывными сигналами, опция) | |||
| время открытия/закрытия | < 15 мсек | ||
| мин.время между открытиями | 80 мсек | ||
| Оптический вход | многожильный оптический световод (требуется согласование спецификации световода) | ||
| без световода | |||
| Размеры, Вес | 283 x 129 x 123 мм, 4,4 кг | ||
| МОДЕЛЬ СПЕКТРОМЕТРА | S200-MF | ||
1) уровень сигнала — 50% от насыщения.
2) антиблюминг – свойство датчика, исключающее перетекание зарядов из пересвеченных пикселей в соседние.
3) максимальным временем накопления считается время, при котором темновой сигнал составляет 10% динамического диапазона при температуре окружающей среды +250С.
При размещении заказа Вам нужно выбрать спектральный диапазон работы и спектральное разрешение Вашего прибора (число штрихов дифракционной решетки).
Для Вашего удобства ниже приведены примеры значений средней дисперсии решеток, спектрального разрешения и интервала одновременной регистрации ПЗС-детектора для каждой конкретной решетки.
| Дифракционные решетки, штрмм | 200 | 300 | 400 | 600 |
| мах спектральный диапазон, нм | 200 – 1100 нм | |||
| спектральный интервал одновременной регистрации (средн.значение), нм | 600 | 400 | 300 | 200 |
| обратная линейная дисперсия (средн.значение), нм/мм | 25,3 | 16,8 | 12,7 | 8,4 |
| спектральное разрешение (средн.значение), нм* | 1,2 | 0,9 | 0,6 | 0,45 |
*спектральное разрешение указано для ширины входной щели 20 мкм.
ПРИМЕР: Если Вас интересует спектральный диапазон 400-700 нм (интервал одновременной регистрации 300 нм), Вы можете выбрать дифракционную решетку 400 штрмм и получить среднее спектральное разрешение 0,6 нм. Для более точного расчета параметров Вашего прибора обратитесь к специалисту СоларЛС.
Габаритные размеры спектрометра S200-MF.
Области применения спектрометров с многоволоконным входом в настоящее время включают спектрофотометрию, физику плазмы, биологию и др. Спектр применений постоянно расширяется.
С помощью S200-MF Вы можете одновременно регистрировать не один спектр, как в случае традиционного спектрометра, а два, пять, десять, двадцать и более спектров в соответствии с требованиями Вашей аналитической задачи.
S200-MF: Спектры дейтериевой лампы, полученные с помощью 21-жильного световода, имеют высокое спектральное разрешение и высокое пространственное разрешение.
S200-MF также может быть использован для получения спектральных изображений от линейного участка образца в оптическом микроскопе. При наличии возможности перемещения объекта в поле зрения микроскопа (сканирующий столик XY) могут быть получены 2D-изображения объекта.
S200-MF: схема одновременной регистрации спектров от нескольких световодов.
S200-MF: схема получения гиперспектральных изображений в оптическом микроскопе.
S200-MF: Абсолютная компенсация астигматизма.
2002-2023 © Copyright SOLAR Laser Systems. Все права защищены
