Гиперспектральный спектрометр S200-MF

  • Описание
  • Спецификация
  • Опции

Достоинства:

  • Одновременная регистрация спектров от двух до нескольких десятков световодов;
  • Получение гиперспектральных изображений в различных оптических системах, включая микроскопы и телескопы;
  • Полная компенсацией астигматизма (Imaging) по всему полю детектора;
  • Специализированное ПО для работы с многоканальным излучением;
  • Встроенная ПЗС-матрица, спектральный диапазон 200-1100нм;
  • Встроенный механический затвор для обработки непрерывных сигналов;
  • Вход синхронизации для работы с импульсным излучением без затвора.

S200-MF - это представитель нового поколения спектрометров с высоким пространственным разрешением по всей площади двухкоординатных (матричных) датчиков изображения.

Благодаря инновационной оптической схеме и специально разработанной оптике с коррекцией аберраций спектрометр S200-MF имеет полную компенсацию астигматизма по всей площади светочувствительной зоны детектора. Это позволяет подсоединить к входной щели спектрометра многоволоконный оптический кабель и одновременно получать спектры от нескольких световодов. При использовании стандартных датчиков высотой порядка 6 мм число одновременно анализируемых световодов может достигать нескольких десятков.

Таким образом, с помощью S200-MF Вы можете одновременно регистрировать не один спектр, как в случае традиционного спектрометра, а два, пять, десять, двадцать и более спектров в соответствии с требованиями Вашей аналитической задачи.

S200-MF имеет входную щель фиксированной ширины и может работать как с оптическими волокнами, так и без них. При прямом вводе излучения в спектрометр изображение анализируемого участка объекта проецируется непосредственно на входную щель, а на детекторе спектрометра регистрируется спектральная информация от выбранного участка с высоким пространственным разрешением.

Спектрометр S200-MF обеспечивает плоское поле и идеальное качество изображения в любой точке поля, как в центре детектора, так и по краям. Компактный размер и короткофокусная оптическая схема S200-MF позволяют при необходимости регистрировать достаточно широкий спектральный диапазон, ограниченный только диапазоном спектральной чувствительности детектора.

S200-MF: одновременная регистрация спектра Hg лампы с помощью 8-ми световодов, λ= 250-600нм.

S200-MF также может быть использован для получения спектральных изображений от линейного участка образца в оптическом микроскопе. При наличии возможности перемещения объекта в поле зрения микроскопа (сканирующий столик XY) могут быть получены 2D-гиперспектральные изображения объекта.

Спецификация S200-MF

МОДЕЛЬ СПЕКТРОМЕТРА S200-MF
Cпектральный диапазон чувствительности детектора 200÷1100 нм
Фокусное расстояние 191 мм
Относительное отверстие 1 : 8,5
Входная щель (одна из ряда) фиксированной ширины: 20, 30, 50 или 100 мкм
Спектральное разрешение зависит от выбранной дифракционной решетки(см. «Рекомендации по выбору дифракц.решетки»)
Модель ПЗС-детектора S10140-1109
Количество пикселей 2068 x 512
Количество активных пикселей 2048 x 506
Размер пикселя 12 x 12 мкм
Размер светочувствительной зоны 24.576 x 6.072 мм
Максимум спектральной чувствительности 600 нм
Квантовая эффективность в максимуме >90 %
Неравномерность чувствительности (1) ±3 %
Антиблюминг (2) нет
АЦП 16 бит
Скорость чтения данных 250 кГц
Среднеквадратичный шум чтения, отсчетов АЦП < 12
Динамический диапазон ~ 5 400 : 1
Время экспозиции 8,3 мсек - 3 сек (3)
Время обработки кадра в режиме суммирования строк 9,39 мсек
Термоэлектрическое охлаждение нет
Рабочая температура 10÷30 0С
Интерфейс связи с компьютером Full Speed USB
Синхронизация IN/OUT
Требования к внешнему синхроимпульсу:
полярность положительная
амплитуда 3-15 В
длительность импульса по полувысоте 5-20 мксек
разъем синхронизации BNC-58
Параметры передаваемых синхроимпульсов:
полярность положительная
амплитуда 3-5 В
длительность импульса по полувысоте 10 мксек
Механический затвор (для работы с непрерывными сигналами, опция)
время открытия/закрытия < 15 мсек
мин.время между открытиями 80 мсек
Оптический вход многожильный оптический световод (требуется согласование спецификации световода)
без световода
Размеры, Вес 283 x 129 x 123 мм, 4,4 кг

1) уровень сигнала - 50% от насыщения.

2) антиблюминг – свойство датчика, исключающее перетекание зарядов из пересвеченных пикселей в соседние.

3) максимальным временем накопления считается время, при котором темновой сигнал составляет 10% динамического диапазона при температуре окружающей среды +250С.

Рекомендации по выбору дифракционной решетки

При размещении заказа Вам нужно выбрать спектральный диапазон работы и спектральное разрешение Вашего прибора (число штрихов дифракционной решетки).

Для Вашего удобства ниже приведены примеры значений средней дисперсии решеток, спектрального разрешения и интервала одновременной регистрации ПЗС-детектора для каждой конкретной решетки.

Дифракционные решетки, штр\мм 200 300 400 600
мах спектральный диапазон, нм 200 – 1100 нм
спектральный интервал одновременной регистрации (средн.значение), нм 600 400 300 200
обратная линейная дисперсия (средн.значение), нм/мм 25,3 16,8 12,7 8,4
спектральное разрешение (средн.значение), нм* 1,2 0,9 0,6 0,45

*спектральное разрешение указано для ширины входной щели 20 мкм.

ПРИМЕР: Если Вас интересует спектральный диапазон 400-700 нм (интервал одновременной регистрации 300 нм), Вы можете выбрать дифракционную решетку 400 штр\мм и получить среднее спектральное разрешение 0,6 нм. Для более точного расчета параметров Вашего прибора обратитесь к специалисту СоларЛС.

Габаритные размеры спектрометра S200-MF.

Области применения спектрометров с многоволоконным входом в настоящее время включают спектрофотометрию, физику плазмы, биологию и др. Спектр применений постоянно расширяется.

С помощью S200-MF Вы можете одновременно регистрировать не один спектр, как в случае традиционного спектрометра, а два, пять, десять, двадцать и более спектров в соответствии с требованиями Вашей аналитической задачи.

S200-MF: Спектры дейтериевой лампы, полученные с помощью 21-жильного световода, имеют высокое спектральное разрешение (рис. вверху) и высокое пространственное разрешение (рис. внизу).

S200-MF также может быть использован для получения спектральных изображений от линейного участка образца в оптическом микроскопе. При наличии возможности перемещения объекта в поле зрения микроскопа (сканирующий столик XY) могут быть получены 2D-гиперспектральные изображения объекта.

S200-MF: схема одновременной регистрации спектров от нескольких световодов.

S200-MF: схема получения гиперспектральных изображений в оптическом микроскопе.

S200-MF: Абсолютная компенсация астигматизма.

Информация отсутствует